D03 粉末X-光繞射儀

D03 D2 Phaser System

壹、儀器設備規格

廠牌：Bruker

X-光產生器

1. X光管（X-RAY Tube）：
   1. 至少為2.2KW 銅靶，長細型，可與其它廠家光管互換
   2. 管身為耐熱陶瓷，需同時具備一個線聚焦及一個點聚焦
2. 高壓電源供應器（High Voltage Generation System）：
   1. 最大輸出功率：300 W
   2. 最大輸出電壓：30 kV
   3. 最大輸出電流：10 mA
   4. 不需使用外部循環水系統冷卻

測角儀系統（Goniometer）

1. θ-θ垂直作動型式，即入射角度及繞射角度可分別獨立動作
2. 樣品需為水平放置避免掉落
3. 2θ作動範圍： -3° ~ 160°或更大
4. 旋轉樣品載台速度：1°/min ~ 80°/min 或更大
5. 全範圍掃描2θ 之精準度：±0.02° 或更好
6. 以Corundum為樣品其 2θ之解析度(半高寬)：0.05° 或更小

光學元件

1. 入射光源：固定抽換式狹縫裝置
2. 特殊設計可調位置阻光刀，提高高角及低角度範圍之信號雜訊比。

化合物半導體偵測器

1. 不須配有繞射側單光器即可解決含鐵鈷鎳等元素所造成之螢光效應的高,背景值，訊號偵測速度需比點偵測器快 ≧ 100 倍以上。
2. 最大偵搜角度：5.5°
3. 偵測區域有效面積：14.4 x 16 mm²
4. 2θ 解析度 ≦ 0.037°
5. 最高偵測強度 ≧ 100M cps
6. 偵測器之動態範圍 ＞ 7x106
7. 偵測器之背景值 ＜ 0.1 cps
8. 偵測器之strips或channel數目：192 個
9. 可應用波長範圍：鉻（Cr）～銅（Cu）
10. 偵測器之靈敏度 ＞ 98%

貳、服務項目

粉末繞射（X-Ray Diffraction）－固體、薄膜、粉末

參、取樣與使用注意事項

1. 樣品量測表面盡量平坦
2. WAXS量測為穿透式，樣品必須能被X-ray穿透。
3. 適用樣品型態：粉末與固體

肆、開放時段

＊須於使用前一週預約

伍、訓練課程規定

須經管理者講解過實際儀器操作訓練之合格操作員，才能自行操作。

陸、收費標準（含訓練課程）※

柒、儀器聯絡與管理人

鄭偉志

電話：06-2757575轉65357轉25   

E-mail：L36131059@gs.ncku.edu.tw

諮詢教授：許桂芳，分機65346

儀器放置地點：理學教學大樓36610室

捌、其他注意事項

1. 預約者前幾次操作儀器時需要管理者在旁教學說明或陪同，請勾選＂操作.訓練.諮詢＂，等管理者認可、允許自行操作之後方可勾選：自測。請同時於備註欄留下聯絡電話，以利後續樣品準備之聯繫，若未按照規定將取消預約資格。
2. 第一次預約者，即使有認可之使用者陪同操作，也請麻煩勾選＂操作.訓練.諮詢＂欄位。
3. 使用共用儀器設備所取得之各項量測數據，不得用於營利用途、廣告標示、訴訟上證據等其他用途。