儀器中文全名

D03 粉末X光繞射儀

儀器英文全名

D03 D2 Phaser System

儀器位置

理學教學大36610

單位／教授

化學系（所）／許桂芳 教授

儀器管理人

鄭偉志

TEL

0978116601

E-mail

L36131059@gs.ncku.edu.tw

技術類別

£前段製程：

£微影　£鍍膜　£蝕刻　£擴散　£化學機械研磨

£表面分析：

£電子能譜儀　£表面特性

£後段製程：

£晶圓針測　£晶圓切割　£黏晶　£打線接合　£封膠

£掃描探針：

£顯微系統　£機械性質　

£形貌分析

£電子顯微：

£SEM　£TEM　£樣品製備

£物理性質：

£磁性　£熱分析　£電學

£光學檢測：

£光譜儀　£顯微形貌分析

£生物醫學：

£分析　£樣品製備

¢晶相分析：

¢XRD

£其他：

£工程樣品製備　£材料力學　

£電腦計算

£分析化學：

£核磁共振儀　£質譜／層析

應用／功能

簡介

Bruker D2 Phaser可進行粉末樣品的相鑑定、結晶度與晶粒尺寸分析，支援多種數據處理模式，適用於材料研發、礦物分析、品質控制等領域，提供快速、精準的 XRD 測試結果。

廠牌／型號

廠牌：Bruker

型號：D2 phaser

重要規格

• X光管（X-RAY Tube）：管身為耐熱陶瓷；至少為2.2KW銅靶，長細型。
• 測角儀系統（Goniometer）：θ-θ垂直作動型式，即入射角度及繞射角度可分別獨立動作。
• 化合物半導體偵測器：不須配有繞射側單光器即可解決含鐵鈷鎳等元素所造成之螢光效應的高背景值，訊號偵測速度需比點偵測器快≧100倍以上。

取樣／使用

注意事項

• 適用樣品型態：粉末與固體
• 樣品量測表面盡量平坦
• 使用共用儀器設備所取得之各項量測數據，不得用於營利用途、廣告標示、訴訟上證據等其他用途。

開放時段

週一、三、四：

9:00～10:00；10:00～11:00；11:00～12:00；14:00～15:00；15:00～16:00；16:00～17:00

週二、五：9:00～10:00；10:00～11:00；11:00～12:00

訓練課程規定

不提供訓練課程

收費標準（含訓練課程）

校內學術：500元／時

校外學術：1000元／時

業界：1500元／時

預約系統

https://cis.cfc.ncku.edu.tw/apparatus/index.php