D03粉末X-光繞射儀(D2 phaser system)

壹、儀器設備說明 (規格)：

廠牌Bruker

X-光產生器

(一)X光管(X-RAY Tube)：

(1)至少為2.2KW 銅靶，長細型，可與其它廠家光管互換

(2)管身為耐熱陶瓷，需同時具備一個線聚焦及一個點聚焦

(二)高壓電源供應器(High Voltage Generation system)：

(1)最大輸出功率：300W

(2)最大輸出電壓：30 kV

(3)最大輸出電流：10 mA

(4)不需使用外部循環水系統冷卻

測角儀系統(Goniometer)

(一)θ-θ垂直作動型式，即入射角度及繞射角度可分別獨立動作

(二)樣品需為水平放置避免掉落

(三)2θ作動範圍： -3° ~ 160°或更大

(四)旋轉樣品載台速度：1°/min ~ 80°/min 或更大

(五)全範圍掃描2θ 之精準度：±0.02° 或更好

(六)以Corundum為樣品其 2θ之解析度(半高寬)：0.05° 或更小

光學元件

(一)入射光源：固定抽換式狹縫裝置

(二)特殊設計可調位置阻光刀, 提高高角及低角度範圍之信號雜訊比

化合物半導體偵測器

(一)  不須配有繞射側單光器即可解決含鐵鈷鎳等元素所造成之螢光效應的高,背景值，訊號偵測速度需比點偵測器快 ≧ 100 倍以上。

(二)最大偵搜角度：5.5°。

(三)偵測區域有效面積：14.4 x 16mm2。

(四)2θ 解析度 ≦ 0.037°。

(五)最高偵測強度 ≧ 100M cps。

(六)偵測器之動態範圍 ＞ 7x106。

(七)偵測器之背景值 ＜ 0.1 cps。

(八)偵測器之strips 或 channel 數目：192 個。

(九)可應用波長範圍：鉻(Cr) ~ 銅(Cu) 。

(十)偵測器之靈敏度 ＞ 98%。

貳、服務項目：

粉末繞射 (X-Ray Diffraction)     固體、薄膜、粉末

參、取樣、使用應注意事項：

1. 樣品量測表面盡量平坦。

2. WAXS量測為穿透式，樣品必須能被X-ray穿透。

3. 適用樣品型態，粉末與固體。

肆、使用時段與預約：

*使用前一星期需至儀設網站儀器設備系統網站預約

伍、訓練課程規定辦法

 合格操作員需經管理者講解過實際儀器操作訓練，才能自行操作。

陸、收費辦法及標準(含訓練課程)：

諮詢教授：許桂芳(教授) 65346 
儀器放置地點：理學教學大樓36610室

捌、其他注意事項：

開始預約