A02 場發射低溫穿透式電子顯微鏡(JEM-2100F Transmission Electron Microscope)
A02 場發射低溫穿透式電子顯微鏡 A02 JEM-2100F Transmission Electron Microscope |
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壹、儀器設備規格 |
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儀器安裝年份:2013年 儀器經費來源:國科會及國立成功大學 廠牌及型號:日本JEOL, JEM-2100F 放置地點:醫學院地下一樓82-B139室,i-MANI實驗室 加速電壓:200 KeV 放大倍率:x2,000~1,500,000 解像力:Point image: 0.27 nm;Lattice image: 0.14 nm 雙傾斜基座:X軸±60° 電子槍 : 場發射 主要附件: DE-12 Camera System:12 Mpixel DDD 感應器。4K x 3K 陣列,6 micron pixels。DE-12能快速、動態的記錄電子繞射圖,加速自動圖像採集,改善CCD造成之低信噪比,並直接擷取高能量電子的數位影像,提高detective quantum efficiency (DQE)(Milazzo, et al., 2010; McMullan et al., 2009),提高信噪比(Bammes, et al., 2012),更提高解析度。 Gatan, Inc. Cryoplunge3 (CP3):樣品低溫速凍機。 Gatan, Inc. 914 High Tilt Liquid Nitrogen Cryo Transfer Tomography Holder: 可進行低溫斷層掃描(electron cryo-tomography),可進行置細胞等級之分析,如病毒與宿主細胞之交互作用以及結構不對稱之病毒的立體構造解析。 Hydrophilic Treatment Device (JEOL, HDT-400):碳膜表面親水性處理。 |
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貳、服務項目 |
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本電顯設備將依使用者需求,針對生物、材料等樣品提供技術諮詢及支援。
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參、取樣與使用注意事項 |
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肆、開放時段 |
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*夜間、週六、日及國定假日,暫不對外開放。 |
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伍、訓練課程規定 |
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無。目前僅提供委託儀器設備操作和樣品製備方法等討論與諮詢。 |
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陸、收費標準(含訓練課程)※ |
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本設備服務費率將隨機器使用及維修狀況機動調整。 委託試片製作
委託JEOL JEM-2100上機使用費
*每個樣品請以3小時為一個預約單位 *因cryo-EM製備時間長,一個樣品請選擇連續三個小時 |
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柒、儀器聯絡與管理人 |
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聯絡人:詹婷婷(研究助理) 電話:06-2353535 ext. 6246 聯絡信箱:sunnylab.ncku@gmail.com
諮詢教授:吳尚蓉 電話:06-2353535 ext. 6715 聯絡信箱:z10208056@email.ncku.edu.tw
儀器放置地點:醫學院地下1樓82-B139 |
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捌、其他注意事項 |
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1. 使用共用儀器設備所取得之各項量測數據,不得用於營利用途、廣告標示、訴訟上證據等其他用途。 |
※收費辦法須含校內學術、校外學術及業界收費標準。若無訂定,將採用default值(校外+50%、業界+100%)。