A02 場發射低溫穿透式電子顯微鏡(JEM-2100F Transmission Electron Microscope)
儀器中文全名 |
A02 場發射低溫穿透式電子顯微鏡 |
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儀器英文全名 |
A02 JEM-2100F Transmission Electron Microscope |
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儀器位置 |
成杏校區醫學院地下一樓82-B139室 |
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單位/教授 |
口醫所/吳尚蓉教授 |
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儀器管理人 |
詹婷婷 |
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TEL |
06-2353535 #6246 |
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sunnylab.ncku@gmail.com |
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技術類別 |
£前段製程: |
£微影 £鍍膜 £蝕刻 £擴散 £化學機械研磨 |
£表面分析: |
£電子能譜儀 £表面特性 |
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£後段製程: |
£晶圓針測 £晶圓切割 £黏晶 £打線接合 £封膠 |
£掃描探針: |
£顯微系統 £機械性質 £形貌分析 |
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¢電子顯微: |
£SEM ¢TEM ¢樣品製備 |
£物理性質: |
£磁性 £熱分析 £電學 |
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£光學檢測: |
£光譜儀 £顯微形貌分析 |
¢生物醫學: |
£分析 ¢樣品製備 |
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£晶相分析: |
£XRD |
£其他: |
£工程樣品製備 £材料力學 £電腦計算 |
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£分析化學: |
£核磁共振儀 £質譜/層析 |
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應用/功能 簡介 |
本電顯設備將依使用者需求,針對生物、材料等樣品提供低溫電顯技術諮詢及服務支援。 含以下檢測項目:
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廠牌/型號 |
廠牌:JEOL |
型號:JEM-2100F |
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重要規格 |
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取樣/使用 注意事項 |
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開放時段 |
*夜間、週六、日及國定假日,暫不對外開放。 |
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訓練課程規定 |
無。目前僅提供委託儀器設備操作和樣品製備方法等討論與諮詢 |
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收費標準(含訓練課程) |
本設備服務費率將隨機器使用及維修狀況機動調整。 委託試片製作:
委託JEOL JEM-2100F上機使用費:
*每個樣品請以3小時為一個單位預約 *因cryo-EM製備時間長,一個樣品請選擇連續3個小時 |
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預約系統 |