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A05 掃瞄電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope)

A05 掃描電子顯微鏡

A05 Scanning Electron Microscope (SEM)

壹、儀器設備規格

SUPRA™ 55, a member of the SUPRA™ series of Field Emission Scanning Electron Microscopes, is a flexible ultra-high performance FESEM featuring the GEMINI column technology. It is controlled by a 32 bit computer system using Microsoft ® Windows ® XP as operating system and has a flexible and easy to use graphical user interface (GUI).

Resolution at Optimum Working Distance

Gemini® column with 4 pA ~ 20 nA probe current

Without AsB detector

0.8 nm at 30 kV (STEM mode)

0.8 nm at 15 kV

1.6 nm at 1 kV

AsB detector fitted (Optional)

0.8 nm at 30 kV (STEM mode)

1.0 nm at 15 kV

1.7 nm at 1 kV

Gemini® column with 12 pA ~ 100 nA beam current

Without AsB detector

0.8 nm at 30 kV (STEM mode)

1.0 nm at 15 kV

1.9 nm at 1 kV

AsB detector fitted (Optional)

0.8 nm at 30 kV (STEM mode)

1.2 nm at 15 kV

2.0 nm at 1 kV

Acceleration Voltage

Range: 0.02 ~ 30 kV

Adjustment: Continuously variable in 10 Volt steps

Probe Current

Configuration 1: 4 pA ~ 20 nA with integrated High Current—Depth of Field module

Stability: Better than 0.2 %/h

Configuration 2: 12 pA ~ 100 nA with integrated High Current—Depth of Field module

Magnification

Range: 12 ~ 1,000,000x

Adjustment: Continuously variable in either coarse or fine modes

Pre-sets: Selectable from a user definable table

Auto-Compensation: Magnification is precisely corrected automatically for changes in working distance or acceleration voltage

Calibration: Display magnification precisely corrected for changes in hard copy output device

Dimensions

330 mm inner diameter and 270 mm height

Movements*

X=130 mm, Y=130 mm, Z=50 mm, T=-3°-70°, R=360° continuous

* May be reduced by specimen size and operating conditions

Scanning Rates

15 non-interlaced electron beam scan speeds are provided as standard from 0.09 sec/frame to 42 min/frame at 1024 x 768 pixel resolution

Ultimate High Vacuum

The ultimate vacuum (HV mode) in the specimen chamber is better than 2.0 x 10 Pa

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貳、服務項目

  1. 以學術研究為主,服務為輔。
  2. 提供待測樣品表面結構的細部觀察。
  3. 提供待測樣品結晶狀的觀察。

參、取樣與使用注意事項

  1. 樣品需乾燥,在真空中無揮發性,以免破壞真空。
  2. 禁止使用磁性材料、有機物、易揮發等有破壞真空之樣品成分。
  3. 其他掃瞄樣品如"蓋玻片"、"粉末"或其他易碎物者,實驗後需於實驗紀錄上註記。
  4. SEM可存取成影像檔(.tiff、.bmp、.jpg),請自行攜帶光碟片存取檔案,禁止以隨身碟存取檔案。

肆、開放時段

  1. 使用時段:

週一~週日24小時開放預約使用,學校停電時、農曆春節時將提前關機;關機、跳電或電子槍氣壓偏高時,將暫停使用一天,進行baking。

  1. SEM採預約使用制,經管理員考核通過的操作者可以自行上網預約使用。
  2. 預約時段使用規定:
  • 上網預約時段後,請確實依照預約時段來進行操作機台。
  • 若超過預約時段開始時間10分鐘都沒有使用機台,則該次時段的預約 功能自動取消,需要使用該次時段者可以直接上網預約後,即可使用。
  1. 非操作者請於委託操作前2週向成功大學物理系負責人或管理員提出申請,再由管理員代為上網預約使用時間。
  2. 目前並無非操作者的使用時段,採提出申請預約制,經負責人同意、管理員可代為操作的情況下,提供委託操作SEM。
  3. 經預約排定時間後,若因故不能使用,請務必於預約時間前三日向管理員告知取消。如未在前三日取消而無故不到者,仍須繳交一小時使用費。

伍、訓練課程規定

  1. 訂定SEM操作考試內容,學習者由各實驗室學長姊負責教導如何操作,經管理員考核並通過操作考試者,方能成為操作者,進行獨自操作。
  2. SEM操作考試內容明訂考試規則,考試內容有硬體操作和軟體操作兩大項目,請向管理員索取。

陸、收費標準(含訓練課程)※

項目

計費方式

營利事業單位

學術研究單位

備註

委託操作

自行操作

左列計費方式均未含管理費及營業稅26%

SEM

1100元/時

700元/時

500元/時

影像輸出

20元/張

10元/張

5元/張

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柒、儀器聯絡與管理人

聯絡人:蔡宜庭 

電話:06-2757575 #65039     

Email: yttsai@mail.ncku.edu.tw

諮詢教授:吳忠霖

電話:06-2757575 #65219

儀器放置地點:物理二館1樓49110室

捌、其他注意事項

  1. 如有特別需求者,請向設備負責人說明,經同意後方可進行操作。
  2. 預約使用必須為本人到場,若有責任歸屬時,視為該時段預約者之責任。
  3. SEM訂定操作規則和使用公約,違規者將視違規內容給予停權2週至3個月的處分。若情節重大者,將提報指導教授與實驗室負責人,最重將取消使用資格。
  4. 未經預約使用即自行操作,視同違規,將給予停權2週的處分。
  5. 請勿私自將實驗室內的任何物品如碳膠、鑷子等帶走,以免影響下一位使用者操作。
  6. 實驗室桌上有SEM使用情況紀錄表,有操作使用SEM者,務必確實填寫。若SEM發生異狀時,需詳實填寫狀況、初步應變措施,並盡快通知管理員處理;若因延遲申報造成SEM損毀,視為該使用者之責任並負責之。
  7. 使用者必須遵守操作規範,禁止與操作SEM無關的任何行為,如有不當使用之行為經發現將停權一個月,不當行為後故意不通報者停權三個月。 若有毀損儀器,必須負修理賠償責任,同時將給予停權三個月的懲處,並提報指導教授與實驗室負責人。
  8. 禁止使用有機物、易揮發等有破壞真空之樣品,所有樣品必須確保乾燥。若因樣品準備不當造成真空系統污染,使用者必須負責將真空系統復原,同時將給予停權三個月的懲處,並提報指導教授與實驗室負責人。
  9. 禁止私下授權給非SEM操作者自行操作,以免毀損儀器,違規的操作者將提報指導教授與實驗室負責人另議懲處。
  10. 使用共用儀器設備所取得之各項量測數據,不得用於營利用途、廣告標示、訴訟上證據等其他用途。

※收費辦法含校內學術、校外學術及業界收費標準。若無訂定,將採用default值(校外+50%、業界+100%)。