C11 雷射掃描共軛焦顯微鏡（與原子力顯微鏡共軸）

C11 Confocal Laser Scanning Microscope (Atomic Force Microscope Co-Axis)

壹、儀器設備規格

一、電動倒立式顯微平台 OLYMPUS IXplore系列 IX83

1. 電動Z軸焦距調整，含紅外線焦距補償模組，可持續鎖焦，間隔尋焦及自焦距尋找模式。
2. 電動六孔鼻輪切換，可用於 DIC，FL，Confocal 及一般觀察方式，含鏡10X，UPLSAPO，NA 0.40，WD 3.10，Air objective；40X，UPLSAPO，NA 0.95，WD 0.18，Air objective。

參眼觀察筒，三段光路切換，含10X目鏡，可調屈光度及眼距。

LCD 觸控式面板控制器，可於暗室實驗時準確控制路定位。

超長工聚光鏡，NA 0.3，WD 73.3，含對比光圈及各倍 DIC 菱鏡組。LED穿透光，亮度可預設，傾斜式穿透光柱，增加置物樣本空間。

3. 鍍銀式共振掃描器（Glavo & Resonant），掃描速度可達438 fps at 512 x 32，光學放大1X～50X，360度樣本影像角度旋轉，圖像解析64～4096像素，單一電動式針孔，直徑50～800 μm，電動減光片，可依實驗需求降低雷射功率。TTL訊號溝通模組。雙層雙頻道冷卻式磷砷化鎵（GaAsP）訊號接收組，電動穿透式繞射光柵（Volume Phase Holographic）光譜分光，頻寬範圍：1～100 nm，解析度：2 nm。可擷取最多16個模擬頻道進行序列掃描。另含一組穿透光影像光電倍增管。

二、雷射耦合器：標準配置四支長效高性能固態雷射，最多可加裝至七道雷射波段，含標準雷射激發模組：405 nm～50 mW、488 nm～20 mW、561 nm～20 mW、640 nm～40 mW。內建AOTF系統，可調強度範圍0.1 %～100 %，最小步進0.1 %。

三、控制站：HPZ440系列工作站，32吋工作螢幕，暗房設計GUI介面，可自由配置工作視窗，Recall parameter 重複實驗，HD on line recording 避免遺失檔案。Ｚ軸掃描過程中可同時調整雷射強度以及偵測器靈敏度，三式3D演算法：α blending、maximum-intensity projection、iso-surface。螢光強度分析以及長時間實驗數據量測。含Deconvolution、Count and Measure、Life Science Analysis、RMTDK（SDK）及OLYMPUS專利超高解析模組。

貳、服務項目

1. 高解析共軛焦顯微影像之擷取與觀察
2. 非侵入式Z軸光學切片偵測
3. 螢光樣本影像擷取觀察（共軛焦模式）
4. 3D影像重組，觀察各部分之細微結構

參、取樣與使用注意事項

影像系統須由專人操作，研究人員自行準備檢體，事先須與聯絡人聯絡確認代工預約時段再線上預約，並告知所需使用的雷射光的種類。

肆、開放時段

操作時段以一小時為單位計算，至少1小時。

1. 每週一9:00～18:00
2. 每週二9:00～18:00
3. 每週四9:00～18:00
4. 每週五9:00～18:00

＊須先與聯絡人聯絡確認代工時間，再線上預約。

伍、訓練課程規定

本儀器由專人操作，不開放訓練課程。

陸、收費標準（含訓練課程）※

委託代工服務：

校內學術：3000元／時

校外學術：4500元／時

業界：6000元／時

柒、儀器聯絡與管理人

聯絡人：

國際傷口修復與再生中心 李耕琿

06-2353535 #5208

gglee0822@gmail.com

管理人：

國際傷口修復與再生中心 湯銘哲主任

06-2353535 #5428

捌、其他注意事項

1. 儀器預約可於一個星期前網路預約，如欲取消預約，請於代檢時間1天前通知技術員，若因故當天取消，請主動聯繫本中心實驗室管理人，Email：iwrr.afm@gmail.com。
2. 請確認樣本製備優良已可拍照再預約使用，以免浪費時間、金錢。（例如：樣品在玻片的中央、封片勿產生氣泡等等）。
3. 預約送件前需與技術員共同討論樣品的組織形態與染色種類等實驗細節，根據實驗內容評估後推薦最適合機器和其參數。
4. 與技術員討論實驗細節和時段後並同意傷口中心之委託代檢合約申請單，才可線上預約預估的時段。
5. 線上預約系統依據預約時段來估算儀器代檢費用，代檢完畢後會修正為實際代檢時間所需費用。
6. 若有其他耗材之使用，依據實際耗材使用品項和數目額外收費。
7. 代檢服務完畢後，請盡快繳費，以利取得數據和預約下一次的代檢服務。
8. 使用共用儀器設備所取得之各項量測數據，不得用於營利用途、廣告標示、訴訟上證據等其他用途。