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C22 界面電位分析儀(Zeta-Potential & Particle Size Analyzer)

儀器中文全名

C22 界面電位分析儀

儀器英文全名

C22 Zeta-potential & Particle size Analyzer

儀器位置

材料新館10F 44A02

單位/教授

材料科學及工程學系(所)/蘇彥勳教授

儀器管理人

陳柏愷

TEL

06-2757575 #62961 #1001

E-mail

n56134613@gs.ncku.edu.tw

技術類別

£前段製程:

£微影 £鍍膜 £蝕刻 £擴散 £化學機械研磨

¢表面分析:

£電子能譜儀 ¢表面特性

£後段製程:

£晶圓針測 £晶圓切割 £黏晶 £打線接合 £封膠

£掃描探針:

£顯微系統 £機械性質 

£形貌分析

£電子顯微:

£SEM £TEM £樣品製備

£物理性質:

£磁性 £熱分析 £電學

£光學檢測:

£光譜儀 £顯微形貌分析

£生物醫學:

£分析 £樣品製備

£晶相分析:

£XRD

£其他:

£工程樣品製備 £材料力學 

£電腦計算

£分析化學:

£核磁共振儀 £質譜/層析

應用/功能

簡介

本儀器透過動態光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)量測材料粒徑,並透過電泳光散射(Electrophoretic Light Scattering, ELS)量測界面電位(Zeta Potential),為表徵奈米材料粒徑、分散性與表面電荷特性的重要技術,廣泛應用於膠體、奈米材料、乳液等系統的物理性質分析。

廠牌/型號

廠牌:OTSUKA                              

型號:ELSZ-2000ZS

重要規格

  • 可量測粒徑範圍:0.6 nm~10 μm
  • 濃度範圍:0.1 ppm ~ 40%
  • Zeta-Potential量測範圍:-200 ~ 200 mV

取樣/使用

注意事項

  • 僅限量測液體樣品
  • 樣品槽只適用水溶液或醇類劑分散之樣品
  • 黑色粒子與螢光粒子不建議檢測
  • 使用共用儀器設備所取得之各項量測數據,不得用於營利用途、廣告標示、訴訟上證據等其他用途。

開放時段

  1. 代工服務時段:全時開放
  2. 每次預約以一個小時為單位
  3. 預約方式:於線上預約系統進行預約,預約前請先行寄E-mail聯絡儀器操作員確認製樣品要求。
  4. 本儀器由專人協同操作

訓練課程規定

本儀器由專人操作,現無訓練課程。

收費標準(含訓練課程)

校內學術:1000元/時

校外學術:1500元/時

業界:1700元/時

*不足一小時,以一小時計費。

預約系統

https://cis.cfc.ncku.edu.tw/apparatus/index.php

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