B08四級桿飛行質譜儀/ Xevo-G2S Q-TOF

壹、儀器設備說明 (規格)：

液相層析界面 : 提供ESI與ESCI兩用式離子源

              具有質量同步校正功能之游離化介面

質量分析器 : 質量分析器質量範圍20~ 4000 Da(含)以上

            質量解析度達32,500 FWHM(含)以上

            質量準確度可達1ppm(含)以下

            線性範圍(Dynamic Range)偵測器可達4 order(含)以上的偵測能力

            數據擷取速度30 spectra/秒(含)以上

偵測器 : 使用快速電子增益偵測器具備取樣速度為6GHz(含)以上

        ADC(Analog to Digital Convertor)，以增加質量解析度與質量準確度

貳、服務項目：

提供UPLC-QTOF、Infused Q-TOF

參、取樣、使用應注意事項：

樣品前處理需確認濃度及緩衝液，使用非揮發性鹽類作為溶劑的樣品請先置換成水溶液或揮發性鹽類緩衝液

肆、使用時段與預約：

伍、訓練課程規定辦法

預約時段同時訓練操作UPLC/Q-TOF與解析圖譜

陸、收費辦法及標準(含訓練課程)：

校內學術： NTD 1000 / per sample

校外學術： NTD 1500 / per sample

業界：NTD 2000 / per sample

柒、儀器聯絡與管理人：  

(06) 2757575 #65339 / 郭晉銘 先生

信箱: kcm821030@gmail.com

教授: (06) 2757575 #65314轉520 /陳淑慧 教授

儀器放置地點: 成功大學新理化大樓5樓520室

捌、其他注意事項：