跳到主要內容區
Menu
回首頁
核心設施中心
聯絡我們
網站地圖
English
成大首頁
本功能需使用支援JavaScript之瀏覽器才能正常操作
資訊分類清單
成員
共儀設備介紹
A. 電子/光學顯微鏡
B. 質譜儀
C. 生醫暨非破壞性分析
D. X-ray
E. 工程樣品製備
F. 電特性檢測
G. 低溫高磁場設備
H. 其他
我要聯絡【共儀儀器管理人】
共儀繳款方式
注意事項
成大校內轉帳
網路ATM轉帳
匯款、支票、匯票
如何加入共儀系統
重要連結
核心設施中心
核心設施中心貴重儀器設備組
核心設施中心微奈米科技組
客服專區
預約儀器
共儀服務預約
貴重儀器設備預約
微奈米科技儀器設備預約
首頁
共儀設備介紹
F. 電特性檢測
F. 電特性檢測
F02離子電導結構掃瞄系統（Scanning ion conductance microscopy）
F03穩態太陽光模擬器
F04表面凱爾文探針掃描光譜儀與光電子能譜儀(Scanning Kelvin Probe and Air Photoemission Spectroscopy)
F05光電量子轉換效率 (QE/IPCE & Spectroscopy Measurement System)
F06 四點探針電阻量測儀 (Four-Point Probes Resistance Meter)
Close (Esc)
Share
Toggle fullscreen
Zoom in/out
Previous (arrow left)
Next (arrow right)
