跳到主要內容區

C10 動態光散射粒徑分析儀及Z電位分析儀(Dynamic Light Scattering/Zeta Potential Analyzer)

C10 動態光散射粒徑分析儀及Z電位分析儀

C10 Dynamic Light Scattering/Zeta Potential Analyzer

壹、儀器設備規格

動態光散射粒徑分析儀(Nanoplus-3)採用光子相關光譜法(P.C.S)、電泳光散射(E.L.S)以及最新的FST技術可精確分析奈米粒子粒徑和界面電位(Zeta Potential),符合ISO13321及22412標準;專利技術可測定固體或薄膜樣品表面界面電位,為應用領域最廣的奈米粒徑及界面電位分析儀。

貳、服務項目

  1. 可測定顆粒在高濃度溶液中的界面電位
  2. 可量測粒徑範圍:0.1 nm~10 μm
  3. 濃度範圍:0.00001 %~40 %
  4. Zeta-Potential量測範圍:-200~200 mV

參、取樣與使用注意事項

  1. 僅限量測液體樣品
  2. 樣品槽請各實驗室自備
  3. 樣品槽只適用水溶液或醇類劑分散之樣品
  4. 黑色粒子與螢光粒子不建議檢測
  5. 請自備廢液回收容器

肆、開放時段

  1. 代工服務時段:全時開放
  2. 每次預約以一個小時為單位
  3. 預約方式:於線上預約系統進行預約,預約前請先行聯絡儀器操作員確認製樣品要求。
  4. 為避免污染請自備樣品槽
  5. 本儀器由專人協同操作

伍、訓練課程規定

本儀器由專人操作,現無訓練課程。

陸、收費標準(含訓練課程)※

校內學術:1000元/時

校外學術:1500元/時

業界:1700元/時

*不足一小時,以一小時計費。

柒、儀器聯絡與管理人

聯絡人:施恒葳(預約前請先行聯絡儀器操作員確認製備樣品要求與時段)

Email:n46134205@gs.ncku.edu.tw

電話:06-2757575 #62840 #1103

諮詢教授:資源系/吳毓純副教授

儀器放置地點:資源系館11樓43B03

捌、其他注意事項

  1. 使用共用儀器設備所取得之各項量測數據,不得用於營利用途、廣告標示、訴訟上證據等其他用途。                                                                   

※收費辦法含校內學術、校外學術及業界收費標準。若無訂定,將採用default值(校外+50%、業界+100%)。