D08 三維X光顯微鏡(3D X-Ray Microscope)
儀器中文全名 |
D08 三維X光顯微鏡 |
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儀器英文全名 |
D08 3D X-Ray Microscope |
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儀器位置 |
台塑檢驗中心 |
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單位/教授 |
台塑檢驗中心 |
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儀器管理人 |
洪慈蓮 博士 |
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TEL |
06-2757575轉31359 |
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z11205048@ncku.edu.tw |
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技術類別 |
£前段製程: |
£微影 £鍍膜 £蝕刻 £擴散 £化學機械研磨 |
£表面分析: |
£電子能譜儀 £表面特性 |
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£後段製程: |
£晶圓針測 £晶圓切割 £黏晶 £打線接合 £封膠 |
£掃描探針: |
£顯微系統 £機械性質 £形貌分析 |
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£電子顯微: |
£SEM £TEM £樣品製備 |
£物理性質: |
£磁性 £熱分析 £電學 |
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¢光學檢測: |
£光譜儀 ¢顯微形貌分析 |
£生物醫學: |
£分析 £樣品製備 |
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£晶相分析: |
£XRD |
£其他: |
£工程樣品製備 £材料力學 £電腦計算 |
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£分析化學: |
£核磁共振儀 £質譜/層析 |
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應用/功能 簡介 |
三維 X 光顯微鏡是一種結合 X 光穿透能力 與 斷層重建技術(CT) 的成像工具,可以在非破壞的情況下,觀察材料或生物樣品的內部結構。 |
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廠牌/型號 |
廠牌:ZEISS |
型號:Xradia 620 Versa |
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重要規格 |
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取樣/使用 注意事項 |
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開放時段 |
週一至週五,08:00~12:00、13:00~17:00 請先與窗口洪慈蓮博士聯絡,再進行系統預約(06-2757575轉31359) |
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訓練課程規定 |
無 |
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收費標準(含訓練課程) |
*僅提供原始數據,如需檢驗報告或圖譜分析則費用另計。 |
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預約系統 |